“С чувством особой гордости я всегда помню, что полвека назад, закончив этот университет, именовавшийся тогда ВТУЗом, в числе других выпускников я получил путевку на производство”


Н. А. Назарбаев

Блог ректора

Карагандинский государственный индустриальный университет — ведущий вуз Казахстана по подготовке высококвалифицированных...

Подробнее »

Новости

Архив

Конференции

Архив

  • 03.10.2019: Истоки большого металла Центрального Казахстана

    1 октября 2019 года студенты и профессорско – преподавательский состав КГИУ приняли активное участие в областной научно — практической конференции «Истоки большого металла», в рамках государственной п...
  • 12.04.2019: В КГИУ прошла XLIХ Республиканская научно-практическая конференция

    В Карагандинском государственном индустриальном университете 11-12 апреля 2019 г. состоялась XLIХ Республиканская научно-практическая конференция «Молодежь XXI века — ключевой фактор конкурентос...
  • 31.05.2018: Форум продолжается

    В Филадельфии продолжается второй форум ректоров казахстанско-американских вузов.   В составе казахстанской делегации – вице-министр МОН РК А. Аймагамбетов, вице-президент АО «Центр международн...
  • 30.05.2018: Форум ректоров в США

    В Соединенных Штатах Америки проходит конференция NAFSA и форум ректоров, в которых принимает участие ректор Карагандинского государственного индустриального университета Б. А. Жаутиков. Вчера, 29 м...
  • 21.05.2018: В Астане прошел Global Challenges Summit-2018

    В столице Казахстана 17-19 мая состоялся ХI Астанинский экономический форум Global Challenges Summit («Саммит глобальных вызовов»). В этом году в его основу легли общемировые тенденции: экономический...
  • 17.04.2018: Встреча в Польше

    В Варшаве проходит встреча делегации ректоров казахстанских университетов с польскими коллегами. В первый день своего пребывания казахстанские ректоры приняли участие в Международном форуме лидеров ...
  • 16.04.2018: Научное творчество молодых в мире Четвертой промышленной революции

    В Карагандинском государственном индустриальном университете в День работников науки, 12 апреля, состоялась XLVIII Республиканская научно-практическая конференция «Научное творчество молодых в мире Ч...
  • 11.04.2018: О Б Ъ Я В Л Е Н И Е!

        О Б Ъ Я В Л Е Н И Е!    12-13 апреля 2018 года Карагандинский государственный индустриальный  университет  совместно  с Кременчугским национальным университетом имени Михаила Остр...
  • 05.03.2018: Подписаны меморандумы между КГИУ и венгерскими вузами

    Подписание меморандумов о взаимодействии с четырьмя венгерскими вузами – таков результат активного участия Карагандинского государственного индустриального университета в венгеро-казахстанском форуме...
  • 27.02.2018: Уважаемые студенты ВУЗов!

    Мы рады сообщить вам, что прием заявок на публикацию в  первом номере  студенческой книжной коллекции «Жас Қыран», запущенной в рамках республиканского проекта «Лучший студент», организованного Общест...

Лаборатория инженерного профиля

Задачи ЛИП «ЭМиН»:

— организация и проведение фундаментальных, поисковых и прикладных научных исследований по профилю лаборатории в соответствии с утвержденным планом;

— реализация проектных разработок и договорных работ по тематике ЛИП «ЭМиН»;

— организация экспериментов по внедрению современных управленческих технологий в учебный процесс по результатам научных работ;

— организация и реализация научных исследований в инициативном порядке, а также в соответствии с грантовой поддержкой, бюджетными и внебюджетными договорами.



Оборудование ЛИПа 

На создание лаборатории в 2008 году затрачено более 200 млн. тенге бюджетных средств. Университетом передано в фонд лаборатории уникальное оборудование мировых производителей.

1. Электронный просвечивающий микроскоп JEM2100.

Увеличение микроскопа от 50 до 1500000 крат позволяет полностью изучать атомно-кристаллическую структуру материала, включительно морфологию и характеристику кристаллической структуры, характеристики типа и распределения разных дефектов кристаллического строения (границы зерен, дефекты упаковки, дислокации, разные комбинации точечных дефектов), а также проводить химический анализ выделяющихся в сплавах частиц и разных включений (в том числе газовых пузырей, пустот), изучать доменную структуру.

Объекты исследования просвечивающего микроскопа: высокодисперсные порошки, осаждаемые на пленку-подложку после специальной операции, окисные пленки – фольга, пленки металлов, тонкие пленки, получаемые из массивных объектов путем химического утончения, реплики, то есть тонкие пленки, воспроизводящие рельеф поверхности изучаемого объекта.

Спойлер
[свернуть]

2. Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JSM 5910.

Позволяет наблюдать топографию поверхности вследствие большой глубины фокуса. Имеется возможность исследования тонких деталей структуры. Можно изучать и получать снимки объемных изображений и конфигураций структуры. Микроскоп также предназначен для изучения субтонкой структуры на уровне кристаллографических плоскостей. Определяет количественный и качественный состав фаз и остаточные напряжения при фазовых превращениях.

Спойлер
[свернуть]

3. Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-6.

Предназначен для проведения рентгенодифракционного анализа кристаллических и аморфных материалов в научно-исследовательских, учебных и заводских лабораториях, в линиях технологического контроля.

С помощью рентгенодифракционного анализа определяют и/или оценивают: качественный и количественный фазовый состав; параметры элементарной ячейки; параметры тонкой структуры – величину и распределение областей когерентного рассеяния и микродеформаций, концентрацию деформационных и двойниковых дефектов упаковки; плотность и распределение дислокаций; величину макронапряжений (напряжений I рода); содержание аморфной и кристаллической фазы; текстуру; ориентировку монокристаллов и другие параметры.

Спойлер
[свернуть]

4. Анализатор химического состава SPECTROLAB.

Предназначен для определения химического состава сплавов на основе железа, алюминия, меди и цинка с добавлением до 20 легирующих элементов (Cr, V, W, S, P, C, Nb, Mo, Ni, Ti, As и др.). Это настольный оптический эмиссионный спектрометр для анализа металлов и сплавов с возбуждением спектра в искре и/или дуге и полупроводниковыми CCD-детекторами. Оптимальный диапазон длин волн от 175 до 550 нм плюс детекторы для щелочных и щелочноземельных элементов.

Спойлер
[свернуть]

5. Оптический микроскоп “LEICA”.

Предназначен для исследования фазового состава и структурных особенностей металлов и сплавов при увеличении от х100 до х1000 раз. Микроскоп оснащен приставкой для определения микротвердости отдельных фаз, а также приставкой для автоматической микрофотосъемки микроструктуры.

Для учебных целей оснащен цветной видеосистемой SONY и телевизионным экраном, на который проецируется изображение с микроскопа.

Спойлер
[свернуть]

6. Оптический металлографический микроскоп Olympus.

Спойлер
[свернуть]

7. Комплекс рентгеновский измерительный «РИКОР».

Предназначен для измерений угловых положений дифракционных пиков возникающих от воздействия направленного на анализируемый объект рентгеновского излучения. Полученные угловые положения пиков служат основой для определения фазового состава исследуемого вещества.

Область применения – контроль качества процесса производства материалов для микроэлектроники, цементной, химической, горно-обогатительной, фармацевтической промышленности, металлургии.

Спойлер
[свернуть]

8. Учебная универсальная крутильно-разрывная машина МИ-40КУ.

Предназначена для испытания образцов на растяжение, сжатие и кручение. Машина используется совместно с IBM – совместимой ПЭВМ и обеспечивает построение графиков зависимости усилия и момента от деформации на дисплее ПЭВМ через стандартный интерфейс RS 232 при растяжении или сжатии образцов силой до 40 кН при скорости нагружения 0,5…60 мм/мин, и кручении с моментом до 200 Нм при скорости нагружения 0,03…6 об/мин.

Машина позволяет автоматически производить следующие измерения: значения линейного перемещения траверсы; значения текущей нагрузки F тек; значения углового перемещения захвата кручения; значение текущего момента М тек.

Спойлер
[свернуть]

9. Универсальный измерительный микроскоп УИМ-23 (тип УИМ-200Э).

Предназначается для измерения линейных и угловых размеров различных изделий в прямоугольных и полярных координатах. В частности, на микроскопе можно измерять всевозможные резьбовые изделия, режущий инструмент, профильные шаблоны и лекала, кулачки, конусы, метчики, резьбонарезные гребенки и др.

Спойлер
[свернуть]

10. Отрезной станок Lobotom-3.

Высокоточный отрезной станок, предназначенный для точного бездеформационного отрезания металлов с твердостью от 30 до 2000 HV. Отрезной станок позволяет получить срез, имеющий ровную, минимально деформированную поверхность. Абразивное мокрое отрезание обеспечивает минимум повреждений поверхности, что облегчает и ускоряет дальнейшую подготовку образцов.

Спойлер
[свернуть]

11. Высокоточный отрезной станок Accutom-5.

Спойлер
[свернуть]

12. Шлифовально-полировальный станок Tegra Pol – Tegra Force фирмы Struers.

Предназначен для высококачественного автоматизированного шлифования и полирования. Станок используется с применением шлифовальных дисков и полировальных сукон на магнитной фиксации MD-System.

Станок позволяет производить материалографическую подготовку материалов с твердостью 30 – 2000 HV.

Спойлер
[свернуть]

13. Устройство электролитической пробоподготовки Struers.

Спойлер
[свернуть]

14. Планетарная шаровая мельница Retsch PM 100 ,  Германия.

Используется для наиболее требовательных прикладных задач, от измельчения, перемешивания и гомогенизации до коллоидного измельчения и механического легирования мягких, средне-твердых, сырьевых (руда), хрупких, волокнистых материалов.

Спойлер
[свернуть]

15. Аналитическая просеивающая машина Retsch AS 200, Германия

Используются для исследований и разработки, контроля качества сырья и готовой продукции, а также в контроле производственной деятельности.  Управляемый электромагнитный привод гарантирует оптимальную адаптацию к каждому веществу. Фракции с узким распределением по размерам частиц могут быть получены даже при очень коротких временах рассева. Имеется аналоговый контроль амплитуды и времени рассева. Размеры сит: 45мкм, 63мкм, 125мкм, 250мкм, 500мкм, 1мм, 2мм, 4мм.

 

Спойлер
[свернуть]

16. Таблеточный пресс  Retsch РР 25,  Германия

Таблеточный пресс с давлением 25 т. предназначен для прессования образцов и позволяет легко и быстро изготавливать прочные таблетки с гладкой поверхностью. Манометр имеет диапазон 0-30 т. с делением 1 т. Пресс подходит для прессования таблеток диаметром 32 и 400 мм и подготовки образцов для рентгенофлуоресцентного анализа.

Спойлер
[свернуть]

17. Вибрационная мельница  Retsch MM 400 CryoMill,  Германия

Предназначена для измельчения, гомогенизации и смешивания небольшого количества сырьевых материалов (руда), хрупкой, волокнистой пробы быстро и эффективно за счет трения и удара. Подходит для сухого, мокрого и криогенного измельчения. В зависимости от длительности измельчения и характеристик материала тонкость помола может достигать 1мкм.

Спойлер
[свернуть]

18. Установка THERMOSCAN-2, Аналитприбор, Россия

Используется для оценки теплоты фазовых переходов и определения температуры, а также любых других процессов в жидких и твёрдых образцах, связанных с поглощением или выделением тепла.

Области применения:

  • анализ образцов сыпучих и твёрдых тел на содержание твёрдых и летучих примесей;
  • определение влажности сыпучих тел;
  • количественный анализ фракционного состава твёрдых смесей.

Технические характеристики:

  • Температурный диапазон измерений: 25÷800 °С
  • Точность определения изменения веса образца: 0,02 г.
  • Погрешность определения температуры: ±1 °С
Спойлер
[свернуть]

19. Портативный Рентгенофлуоресцентный анализатор  Olimpus Delta XRF Innov-X Systems, Inc., США

Портативный XRF анализатор предназначен для идентификации и анализа содержания химических элементов твердых и  порошкообразных образцах металлов, сталей и сплавов, почв, руд и других веществ. Позволяет определять следующие элементы: Cd, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Sn, Sb, Mg, Al, Si, P, S.

Спойлер
[свернуть]

Буклет по оборудованию (pdf)