Задачи ЛИП «ЭМиН»:

– организация и проведение фундаментальных, поисковых и прикладных научных исследований по профилю лаборатории в соответствии с утвержденным планом;

– реализация проектных разработок и договорных работ по тематике ЛИП «ЭМиН»;

– организация экспериментов по внедрению современных управленческих технологий в учебный процесс по результатам научных работ;

– организация и реализация научных исследований в инициативном порядке, а также в соответствии с грантовой поддержкой, бюджетными и внебюджетными договорами.

---

---

ИЗ-нің қондырғылары

2008 жылы зертхананы жабдықтау үшін 200 млн. теңге бюджеттік қаржы жұмсалды. Университет зертхана қорына әлем өндірушілерінің айрықша жабдықтарын берді.

Қысқаша сипаттама

JEM2100 электронды жарықтандыратын микроскоп.

Микроскоп 50 ден 1500000 есе үлкейту арқылы материалдың атомды-кристалды құрылымын толық зерттеуге сонымен қатар, кристалды құрылымының морфологиясын және сипатын, кристалды құрылыстың (түйіршік шекарасы, орау ақаулықтары, шоғырлану, нүктелі ақаулықтардың әртүрлі комбинациясы) әртүрлі ақаулықтарының таралуын және сипатты түрін, сонымен бірге, қортпаларда бөлінетін бөлшектер және әртүрлі қоспаларға (оның ішінде газды көпіршіктер, қуыс) химиялық талдау жасауға, доменді құрылымды зерттеуге мүмкіндік береді.

Жарықтандыратын микроскоппен зерттелетін нысандар: арнайы операциядан кейінгі шөгілетін қабыршақты-астарлы жоғары дисперсті ұнтақтар, үлкен нысандарды химиялық жіңішкерту тәсілімен алынған қышқылданған қабыршақтар – фольга, металдар қабыршақтары, жұқа қабыршақтар, зерттелетін нысанның қалыптасатын бетті бедері.

JSM 5910 сканирлейтін электронды микроскоп

JSM 5910 сканирлейтін электронды микроскоп фокус тереңдігін үлкен әсер етуінің бетті типографиясын бақылауға мүмкіндік береді. Бөлшектердің жіңішке құрылымын зерттеуге жағдай жасайды. Құрылымның көлемді бейнесін және конфигурациясының суретін алуға және зерттеуге болады.

Сонымен бірге, микроскопта кристаллографикалық жазықтықт деңгейінде субжұқа құрылымнды зерттеуге болады. Фазалардың санды және сапалы құрамы және фазалық түрлену кезінде қалдықты кернеу анықталады.

ДРОН-6 жалпы қолданысты рентгенді дифрактометр 

ДРОН-6 жалпы қолданысты рентгенді дифрактометр технологиялық бақылау желістерінде, зауыттық және оқу, ғылыми-зерттеу  зертханаларында аморфты және кристалды материалдарға рентгендифракционды талдау жасауға арналған.

Рентгендифракционды  талдау көмегімен анықталады және /не бағаланады: фазаның сандық және сапалық құрамы; элементарлы ұяшық парметрлері; жұқа құрылым параметрлері – когерентті және микродеформацияланған ыдыраудың таралу аумағы және шамасы,деформационды және ораудың қосарлы ақаулықтарының шоғырлануы; дислокацияның тығыздығы және таралуы; мкрокернеу (І түрдегі кернеу) шамасы; аморфты және крситалды фазалар құрамы; текстура; моокристалдар және т,б, параметрлер.

SPECTROLAB химиялық құрамдар анализаторы

SPECTROLAB химиялық құрамдар анализаторы темір, алюминий, мыс және мырыш негізгі 20 дейінгі легірлейтін қоспалы (Cr, V, W, S, P, C, Nb, Mo, Ni, Ti, As және т.б.) элементті қортпалар құрамын анықтайды. Бұл үстел үсіне орнатылған эмиссионды спектрометр, CCD-детекторлы жартылай өткізгішті және ұшқын және/ не доғада спектрлі қоздырғышты металдар мен қортпаларды талдауға арналған.толқын ұзындықтарының оңтайлы диапазоны 175 ден 550 нм дейінгі, сонымен бірге сілтілі және сілтілі-топырақты элементтерге арналған детекторлы.

“LEICA” оптикалық микроскопы

“LEICA” оптикалық микроскопы х100 нан х1000 дейін үлкейту кезінде металдар мен қортпалардың құрылымдық ерекшеліктерін және фазалық құрамын зерттеуге арналған. Микроскоп қалған фазалардың микроқаттылығын анықтауға, сонымен қатар, микроқұрылымның  микрофотоларын автоматты түсіруге арналған құрылғы-тұғырмен жабдықталған. Оқу мақсатына арналған SONY түсті видеожүйемен және микроскоптан бейнелер проекцияланатын телевизионды экранмен жабдықталған.

Olympus оптикалық металлографикалық микроскоп

«РИКОР» рентгенді өлшеу

«РИКОР» рентгенді өлшеу кешені сарапталатын нысанға бағытталған рентгенді сәулелердің әсер етуінен түзілетін дифракционды шыңдардың бұрышты жағдайларын өлшеу үшін қолданылады. Шыңдардың анықталған бұрышты жағдайы зерттелетін заттың фазалы құрамын анықтауға арналған негіз ретінде қолданылады.

Қолданылу аумағы – микроэлектроника, цементі, химиялық, тау-кен-байыту, фармацевті өндіріс, металлургия саласына арналған материалдарды өндіру үрдісінің сапасын тексеру үшін қолданылады.

МИ-40КУ оқу әмбабапты айналмалы-үзу машинасы

МИ-40КУ оқу әмбабапты айналмалы-үзу машинасы үлгілердің созылуын, сығылуын және бұралуын сынауға арналған.

Машина ҚЭЕМ біріккен IBM бірге қолданылады  және жүктелу жылмадығы 0,03…6 айн/мин кезінде айналу моменті 200 Нм дейінгі және жүктелу жылдамдығы 0,5…60 мм/мин кезінде 40 кН дейінгі күшпен үлгінің сығылуы не созылуы кезінде стандартты RS 232 интерфейс арқылы дисплейде деформациялану моментіне және күшті тәуелділікті графиктерді құрастыруды қамтамасыз етеді.

Машинада мынандай өлшеулер автоматы түрде орындалады: траверстердің сызықты қозғалысының мәні; F тек ағымды жүктелу мәні; бұралу қарпуының қозғалу бұрышының мәні; М тек ағымды моментінің мәні.

УИМ-23 (УИМ-200Э түрі) әмбабапты өлшеу микроскопы

УИМ-23 (УИМ-200Э түрі) әмбабапты өлшеу микроскопы тікбұрышты және полярлы координаттарда әртүрлі өнімдердің бұрышты және сызықты өлшемдерін өлшеуге арналған. Оның ішінде, микроскопта кез келген ойықты өнімдерді, кесетін инструменттерді, прфилді шаблондарды және лекалдарды, жұдырықтар, конустар, лақтырғыштар, ойықты кесілген тарақшаларды және т.б.өлшеуге болады.

Lobotom-3 жоғары дәлділікте кесетін станок.

Ол қаттылығы 30 дан 2000 HV дейінгі металдарды деформациялаусыз дәл кесуге арналған. Кесу станогында тегіс, аз деформацияланған бетті алуға болады. Абразивті ылғалды кесу беттің аз бүлінуін қамтамасыз етеді, бұл үлгіні әрі қарай дайындауды жеңілдетеді және жылдамдатады.

Accutom-5 жоғары дәлділікте кесетін станок 

Tegra Pol – Tegra ажарлайтын-жылтырлататын станогы

Struers фирмасының Tegra Pol – Tegra ажарлайтын-жылтырлататын станогы автоматтандырылған жоғары сапалы ажарлау және жылд\тырату үшін қолданылады. Станок ажарлайтын дискіні және MD-System магнитті фиксациялы жылтырататын шүберекті қолданады.

Станок қаттылығы 30 – 2000 HV материалды материалографикалық сынақтан өткізуге дайындауға мүмкіндік береді.

Struers үлгіні электролитті дайындайтын қондырғы 

Буклет по оборудованию (pdf)